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電鏡能譜一體化設計，簡潔小巧Phenom ProX 的能譜儀 EDS 是針對臺式電鏡設計的，本著臺式電鏡簡單易用，售后無憂的宗旨，Phenom ProX 的能譜儀 EDS 系統嵌入在電鏡主機中，利用半導體制冷，無需額外冷卻系統。

飛納臺式掃描電鏡1997年FEI和飛利浦電子光學宣布合并其業務2008年臺式掃描電子顯微鏡飛納(Phenom)進入中國市場2012年飛納(Phenom）臺式掃描電鏡銷最突破2000臺2013年飛納（Phenom)發布第三代臺式掃描電鏡，放大倍數10萬倍，分辨率優于8nm 17世紀荷蘭光學天才:Antoni van Leeuwenhoek設計并制造一臺光學顯微鏡。

Aperio GT 450標記為僅供研究使用，可提供優先掃描的連續機架裝載，僅需32秒即可在病理載玻片上以40x放大率掃描15mm15mm組織區域，吞吐量為81載玻片/小時。這項新技術允許客戶進行研究以擴大數字病理學，以滿足不斷增加的滑動量需求。

RISE電鏡-拉曼一體化系統SEM-Raman (RISE Microscopy) RISE電鏡-拉曼一體化系統是一款新穎的顯微鏡技術，在一個集成的顯微鏡系統中結合了共焦拉曼成像和掃描電子顯微鏡技術，這種的組合為顯微鏡用戶對樣品進行綜合表征，提供了明顯的優勢。掃描電子顯微鏡是一個很好的表征納米范圍內樣品表面結構的可視化技術，而共焦拉曼成像是表征樣品化學和分子組成的成熟光譜方法。

在以納米技術和生物技術為主的產業領域里，從物質的微細結構到組成成分，SEM在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。SEM用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺能對應的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時需要進行切割等加工。因此，對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。