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KSI-Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的結(jié)合-換能器頻率范圍:100MHz——2000MHz頻率實(shí)現(xiàn)高分辨率-探測(cè)深度-特殊平均模式使信噪比更好-同步光學(xué)成像和超聲波成像使樣品在結(jié)構(gòu)上、生物化學(xué)性能上和機(jī)械性能上具有關(guān)聯(lián)性
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KSI-Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的結(jié)合
- 換能器頻率范圍:100MHz——2000MHz頻率實(shí)現(xiàn)高分辨率
- 探測(cè)深度- 特殊平均模式使信噪比更好
- 同步光學(xué)成像和超聲波成像使樣品在結(jié)構(gòu)上、生物化學(xué)性能上和機(jī)械性能上具有關(guān)聯(lián)性。
- 光聲效應(yīng)增強(qiáng)了對(duì)比性
- 放大倍數(shù):1000倍
- 入射光顯微鏡和倒置光學(xué)顯微鏡可調(diào)節(jié)
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