高分辨率 光學(xué) 膜厚測量 FR-pRo 測厚儀

干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng)，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動(dòng)變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關(guān)的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精度，干涉條紋每移動(dòng)一個(gè)條紋間距，光程差就改變一個(gè)波長(～10-7米)，所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程差的，其測量精度之高是任何其他測量方法所的。

FR-pRo是模塊化和可擴(kuò)展的測量儀器系列，可根據(jù)客戶需求量身定制，并且能夠通過標(biāo)準(zhǔn)的吸光度/透射率和反射率測量，以及在溫度和環(huán)境受控環(huán)境下進(jìn)行薄膜表征，在各種不同的應(yīng)用中使用。

應(yīng)用領(lǐng)域：
1、半導(dǎo)體晶片
2、液晶產(chǎn)品（CS,LGP,BIU）
3、微機(jī)電系統(tǒng)
4、光纖產(chǎn)品
5、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)盤（HDD,DVD,CD）
6、材料研究
7、精密加工表面
8、生物醫(yī)學(xué)工程

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1 、非接觸式測量：避免物件受損。
2 、可測多層薄膜厚度，厚度范圍：1nm-3mm。

3、光譜：200-2500nm。
4 、多重視野鏡片：方便物鏡的快速切換。
5、納米級分辨率：垂直分辨率可以達(dá)0.1nm。
6、高速數(shù)字信號處理器：實(shí)現(xiàn)測量僅需幾秒鐘。
7 、掃描儀：閉環(huán)控制系統(tǒng)。
8、工作臺(tái)：氣動(dòng)裝置、抗震、抗壓。
9 、測量軟件：基于windows 操作系統(tǒng)的用戶界面，強(qiáng)大而快速的運(yùn)算